Fabrication of rainbow hologram with NanoMaker  Fabrication of Rainbow Hologram with NanoMaker
 NanoMaker  Скачать  Примеры Использования  Поддержка  Публикации  Контакты 
English      Russian
 NanoMaker
 О Продукте
 Функции
 Продукты
 Генератор Изображений
 Фотогалерея
 Скачать
 Примеры Использования
 Поддержка
 Публикации
 Контакты
Site search by Google
Рейтинг@Mail.ru  eXTReMe Tracker
Навигатор по фотогалерее

Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)

E. Konstantinov, E. Demidov
Scientific Center ""Nonequilibrium Phenomena in Condensed Matter and Nanostructures", Herzen State Pedagogical University , St. Petersburg, Russia
Оборудование: SEM Zeiss EVO 40

Thin film structures of pure bismuth on Sio2 sublayer were patterned by electron beam lithography using negative photoresist ma-N 2403. Series of samples of different thickness with width of the central wire of 0.5-15 microns were created. The structures used to measure the galvanomagnetic properties (resistance, magnetoresistance and Hall coefficient) of thin bismuth films. The study was performeded in temperature range of 77-300 K in applied magnetic fields up to 3.5 T.

Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
Назад в Фотогалерею

Другие фотографии наших пользователей

Фрагмент Брэгг-Френелевской зонной пластинки спроектированной для рент A. Firsov; Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, BESSY II
Фрагмент Брэгг-Френелевской зонной пластинки спроектированной для рентгеновской оптики и спектроскоп... Далее...
Сверхпроводниковый болометр на горячих электронах для гетеродинного пр G.Goltsman, K. Smirnov, N.Kaurova et al.; MSPU
Сверхпроводниковый болометр на горячих электронах для гетеродинного приемника терагерцового диапазон... Далее...
Фотонный кристалл с внедренным дефектом решетки J. Kouba; Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, BESSY II
Фотонный кристалл с внедренным дефектом решетки... Далее...
Детектор квантовых состояний V. Gurtovoi, A. Firsov; IMT RAS
Детектор квантовых состояний... Далее...
Искуственный дефект в двухмерном фотонном кристалле A. Nashchekin, E. Arakcheeva, E. Tanklevskaya; Ioffe Physico-Technical Institute RAS
Искуственный дефект в двухмерном фотонном кристалле... Далее...
Селективное выращивание однослойных углеродных нанотрубок и создание п Y. Kasumov et al.; IMT RAS1 and ISSP RAS2
Селективное выращивание однослойных углеродных нанотрубок и создание приборов на их основе... Далее...
В Новый 2011 год с ионно-лучевой литографией! Yu. Petrov, Prof. O. Vyvenko; St. Petersburg State University
В Новый 2011 год с ионно-лучевой литографией!... Далее...
Массив сверхпроводящих приемных элементов для детектирования излучения A. Vystavkin, A. Kuzmin, S. Shitov, A. Kovalenko, I. Kon, A. Uvarov, et al.; Institute of Radioengineering and Electronics (IRE) of RAS
Массив сверхпроводящих приемных элементов для детектирования излучения в терагерцовом диапазоне.... Далее...
"Глубокие" дифракционные решетки рентгеновского излучения на М. Knyazev, V. Starkov, D. Roshchupkin; IMT RAS
"Глубокие" дифракционные решетки рентгеновского излучения на основе кристалла Si (400)... Далее...
Множественные сверхпроводящие кольца соединенные в длинную цепь V. Gurtovoi2, V. Antonov1; Royal Holloway University1
Множественные сверхпроводящие кольца соединенные в длинную цепь... Далее...
Другие фотографии от Herzen State Pedagogical University
(Щелкните на изображении чтобы увеличить )
Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
1. Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
2. Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
3. Тонкопленочные структуры из висмута (Bi)
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                   
 
    Copyright © 2002-2020 Interface Ltd. & IMT RAS